La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prova per determinare la resistenza di un dispositivo che viene sottoposto a variazioni rapide o estreme di temperatura e gli effetti di una esposizione alternata a valori estremi di temperatura.
La sottomissione a questa prova può indurre difetti e guasti differenti rispetto all'esposizione a cambi ciclici di temperatura in aria.
Nella Norma vengono presentati due metodi: quello a variazioni rapide di temperatura e quello dei due bagni.
Se entrambi i metodi vengono applicati per la qualificazione di un dispositivo, viene data la preferenza ai risultati del ciclo di temperature in aria rispetto al metodo dei due bagni.
Il metodo dei due bagni può essere usato , con un numero inferiore di cicli (5-10) per verificare gli effetti dell'immersione dei dispositivi in liquidi caldi per la loro pulizia.
Questo tipo di prova si applica a tutti i dispositivi a semiconduttore ed è di tipo distruttivo (se non diversamente indicato nelle specifiche relative)
In generale la prova a variazioni rapide di temperatura ed il metodo dei due bagni, è conforme alla IEC 60068-2-14, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.