2752267

CEI EN 62415 [ Active ]

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

standard by Comitato Elettrotecnico Italiano , 07/01/2011

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Full Description

Questa Norma si occupa del fenomeno della elettromigrazione.
In essa viene descritto un metodo per la prova su linee metalliche di correnti di elettromigrazione costante attraverso nastri e contatti.
La Norma descrive le strutture e le condizioni di prova, i criteri per valutare un guasto causato dall’elettromigrazione, le modalità di analisi dei dati ricavati dalle prove.

Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.

 

Product Details

Edition:
11
Published:
07/01/2011
Number of Pages:
16
File Size:
1 file , 750 KB